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3D 표면을 자동으로 측정 및 분석

형상 분석 레이저 마이크로스코프 VK-X 시리즈는 재질에 제한없이 대상 물체의 형상과 거칠기 및 막 두께 등을 비접촉 방식으로 나노미터 단위로 측정 데이터를 제공합니다.

  • 비접촉 방식으로 측정

    형상과 거칠기 및 막 두께를 나노미터 고분해능으로 측정합니다.

  • 재질에 제한이 없다

    재질에 제한없이 고분해능으로 표면 데이터를 수집합니다.

  • 하이 앵글로 검출

    굴곡이 있거나 가파른 형상도 적은 노이즈로 측정합니다.

  • 고해상도/
    고배율 이미지

    단파장 레이저가 백색 광원 시스템보다 높은 분해능으로 이미지를 생성합니다.

  • 여러 개의 파일을 자동으로 분석 및 처리

    일괄 처리를 통해 측정 결과들에 대한 균일성과 재현성을 확보하며 분석 시간을 줄입니다.

  • 사용하기 편하다

    샘플을 전처리할 필요가 없습니다. 사용자가 작업하기 편리한 소프트웨어를 제공합니다. 이 소프트웨어는 샘플간의 비교분석이 가능합니다.

  • 자세한 내용은 카탈로그를
    다운로드하여 확인하십시오.

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