형상 측정 레이저 마이크로스코프
VK-X 시리즈
권장되는 대체 제품: 헤드부 - VK-X3100
고객 문의: 031-789-4300 문의 양식
헤드부 (자색 반도체 레이저) VK-X1100
사양
모델 | VK-X1100 | |||
종류 | 헤드부 | |||
종합 배율 | ~28,800 배*1 | |||
시야 (최소 시야 범위) | 11 µm~7,398 µm | |||
프레임 레이트 (레이저 측정 속도) | 4~125 Hz, 7,900 Hz*2 | |||
측정 원리 | 광학계 | 핀홀 공초점 광학계, 포커스 배리에이션 | ||
수광 소자 | 16 bit 센싱 포토멀티플라이어, 초고해상도 컬러CMOS | |||
스캔 방식 | 자동 상하한 설정 기능, 고속 광량 최적화 기능 (AAGⅡ) , 반사 광량 부족 보완 기능 (더블 스캔) | |||
높이 측정 | 표시 분해능 | 0.5 nm | ||
리니어 스케일 | ||||
다이내믹 레인지 | 16 bit | |||
반복 정도 σ | 레이저 공초점 | 20 x : 40 nm, 50 x : 12 nm | ||
포커스 배리에이션 | 5 x : 500 nm, 10 x : 100 nm, 20 x : 50 nm, 50 x : 20 nm | |||
높이 데이터 취득 범위 | 70 만 스텝 | |||
정확도 | 0.2 + L/100 µm 이하 (L = 측정 길이 µm)*3 | |||
폭 측정 | 표시 분해능 | 1 nm | ||
반복 정도 3σ | 레이저 공초점 | 20 x : 100 nm, 50 x : 40 nm | ||
포커스 배리에이션 | 5 x : 400 nm, 10 x : 400 nm, 20 x : 120 nm, 50 x : 50 nm | |||
정확도 | 측정값의 ±2 % 이내*3 | |||
XY스테이지구성 | 수동 가동 범위 | 70 mm x 70 mm | ||
전동 가동 범위 | 100 mm x 100 mm | |||
관찰 | 관찰 화상 | 초고해상도 컬러CMOS 화상, 16 bit 레이저 컬러 공초점 화상, 공초점 + ND 필터 광학계, C - 레이저 미분 간섭 화상 | ||
조명 | 링 조명, 동축 낙사 조명 | |||
측정용 레이저 광원 | 파장 | 자색 반도체 레이저 404 nm | ||
최대 출력 | 1 mW | |||
레이저 등급 | 2 등급 레이저 제품 (KS C IEC60825-1) | |||
전원 | 전원 전압 | 100~240 VAC, 50/60 Hz | ||
소비 전류 | 150 VA | |||
중량 | 약 13.0 kg | |||
*1 23 인치 모니터 화면 상에서의 배율 (전체 화면 표시일 때) |