단자의 다점 평탄도 측정

기존에는 비전 시스템이 다점 평탄도 측정에 주로 사용되었습니다. 그러나 커넥터의 형상이 복잡해지면서 비전 시스템으로는 측정할 수 없는 경우가 생겨났고 이로 인해 LJ-X 시리즈의 높이 프로파일 데이터에 의한 검사가 효과를 발휘하게 되었습니다.