칩의 들뜸·중첩

넓은 범위를 고정도로 측정할 수 있는 LJ-X8000 시리즈를 사용하면 여러 칩의 들뜸이나 중첩을 한 번에 검사할 수 있습니다. 높이로 포착하므로 안정적으로 정확하게 검사할 수 있습니다.

초고해상도 인라인 프로파일 측정기

LJ-X8000 시리즈