에칭 후의 깊이 측정

기존과 같은 측정 현미경을 이용한 검사는 작업자에 따라 발생하는 편차 및 긴 검사 시간이 과제였습니다. 반면 독자적인 방식을 통해 면으로 일괄 측정할 수 있는 WI 시리즈는 비접촉으로 오차 없이 순식간에 측정할 수 있습니다.