칩의 들뜸 검사

기존에는 투과형 센서로 칩의 들뜸을 검사했습니다. 칩이 소형화·슬림화되면서 검출이 어려운 경우가 생겨나고 있습니다. LJ-V 시리즈는 대상 물체의 표면 형상을 정확하게 포착할 수 있기때문에 소형 칩의 들뜸도 확실히 검출할 수 있습니다.