주사전자현미경

전자 빔을 사용해 표본의 표면을 스캔하는 전자 현미경의 일종입니다. 주사전자현미경은 깊은 피사계 심도와 고해상도가 특징인 화상을 만들어내고 매우 높은 배율을 달성할 수 있습니다. SEM은 원소 분석기를 옵션으로 장착하면 대상 물체의 화학적 구성을 판단할 수 있습니다.